概   述

HTJSY-B變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場(chǎng)或?qū)嶒?yàn)室測(cè)試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測(cè)試儀器。測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x0.2級(jí)測(cè)試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測(cè)試。頻率可變?yōu)?0Hz、47.5Hz\52.5Hz、45Hz\55Hz、60Hz、57.5Hz\62.5Hz、55Hz\65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開(kāi)了工頻電場(chǎng)對(duì)測(cè)試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量的難題。同時(shí)適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測(cè)的場(chǎng)合。該儀器配以絕緣油杯加溫控裝置可測(cè)試絕緣油介質(zhì)損耗。

儀器主要具有如下特點(diǎn)：

l 超大液晶中文顯示

操作簡(jiǎn)單，儀器配備了的全觸摸液晶顯示屏，超大全觸摸操作界面，每過(guò)程都非常清晰明了，操作人員不需要額外的專(zhuān)業(yè)培訓(xùn)就能使用。輕輕點(diǎn)擊一下就能完成整個(gè)過(guò)程的測(cè)量，是目前理想的智能型介損測(cè)量設(shè)備。

l 海量存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

儀器變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x0.2級(jí)內(nèi)部配備有日歷芯片和大容量存儲(chǔ)器，保存數(shù)據(jù)200組，能將檢測(cè)結(jié)果按時(shí)間順序保存，隨時(shí)可以查看歷史記錄，并可以打印輸出。

l 科學(xué)*的數(shù)據(jù)管理

儀器數(shù)據(jù)可以通過(guò)U盤(pán)導(dǎo)出，可在任意一臺(tái)PC機(jī)上通過(guò)我公司軟件，查看和管理數(shù)據(jù)。

l 多種測(cè)試模式

儀器能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。

l CVT測(cè)試一步到位

該儀器還可以測(cè)試全密封的CVT（電容式電壓互感器）C1、C2的介損和電容量，實(shí)現(xiàn)了C1、C2的同時(shí)測(cè)試。該儀器還可以測(cè)試CVT變比和電壓角差。

l 不拆高壓引線測(cè)量CVT

儀器可在不拆除CVT高壓引線的情況下正確測(cè)量CVT的介質(zhì)損耗值和電容值。

l CVT反接屏蔽法測(cè)量C0

儀器可采用反接屏蔽法測(cè)量CVT上端C0的介質(zhì)損耗值和電容值。

l 高速采樣信號(hào)

儀器內(nèi)部的逆變器和采樣電路全部由數(shù)字化控制，輸出電壓連續(xù)可調(diào)。

二  工作原理

測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀  （體積小、重量輕）

三   主要技術(shù)參數(shù)

1使用條件

-15℃∽40℃

RH＜80%

2

抗干擾原理

變頻法

3

電    源

AC 220V±10%

允許發(fā)電機(jī)

4

高壓輸出

0.5KV∽10KV

每隔0.1kV

精    度2%

大電流     200mA

容    量

2000VA

5

自激電源

AC 0V∽50V/15A

50HZ、60HZ單頻

45HZ/55HZ   47.5HZ/52.5HZ

55HZ/65HZ   57.5HZ/62.5HZ

自動(dòng)雙變頻

6

分 辨 率

tgδ: 0.001%

Cx: 0.001pF

7

精    度

△tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%)

△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF)

8

測(cè)量范圍

tgδ

無(wú)限制

C x

15pF＜ Cx ＜ 300nF

10KV

Cx＜ 60  nF

5KV

Cx＜ 150 nF

1KV

Cx＜ 300 nF

CVT測(cè)試

Cx＜ 300 nF

9

CVT變比范圍

10∽10000

CVT變比精度

0.1%

CVT變比分辨率

0.01

10

外型尺寸（主機(jī)）(mm)

350（L）×270（W）×270（H）

外型尺寸(附件箱)(mm)

350（L）×270（W）×160（H）

11

存儲(chǔ)器大小200組 支持U盤(pán)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)

三.變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀

在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱(chēng)為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。